Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion

dc.contributorFeldmann, Klaus
dc.contributorSauer, TU Dresden, Wilfried
dc.contributor.advisorFeldmann, Klaus
dc.contributor.authorSchimpf, Claudius
dc.contributor.editorGeiger, Manfred
dc.contributor.editorFeldmann, Klaus
dc.date.accessioned2019-06-11
dc.date.available2019-06-07
dc.date.created2009
dc.date.issued2019-06-11
dc.description.abstractThis paper shows new possibilities of coping with diverse challenges in the field of electronic production.It focuses on permanent measuring data acquisition during reliability tests and adjusted test procedures for decentralized electronics. Furthermore it presents a new measuring procedure for the analysis of soldering processes in rework.en
dc.description.abstractDie Arbeit zeigt neue Möglichkeiten bei der Bewältigung der vielfältigen Herausforderungen in der Elektronikproduktion auf. Im Mittelpunkt steht dabei eine permanente Messdatenüberwachung während Zuverlässigkeitsuntersuchungen, bei angepassten Prüfungen für dezentrale Elektronik und bei einem neuen Messverfahren für die Analyse der Lötprozesse in der Nacharbeit.de
dc.format.extent162 Seiten, 90 Bilder, 14 Tabellen
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.25593/978-3-87525-290-3
dc.identifier.isbn978-3-87525-290-3
dc.identifier.opus-id11132
dc.identifier.urihttps://open.fau.de/handle/openfau/11132
dc.identifier.urnurn:nbn:de:bvb:29-opus4-111328
dc.language.isode
dc.publisherMeisenbach
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/deed.de
dc.subjectElektronikproduktion
dc.subjectZuverlässigkeitsuntersuchungen
dc.subjectPrüfabläufe
dc.subjectNacharbeit
dc.subjectProzessanalyse
dc.subjectProzessoptimierung
dc.subject.ddcDDC Classification::6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften :: 60 Technik :: 600 Technik, Technologie
dc.subject.ddcDDC Classification::6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften :: 62 Ingenieurwissenschaften :: 620 Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
dc.titleOptimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktionde
dc.typedoctoralthesis
dcterms.publisherFriedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
local.date.accepted2009-01-13
local.notesOpusNach Rechteübertragung des Meisenbach-Verlags auf die FAU digitalisiert und online gestellt durch Geschäftsstelle Maschinenbau und Universitätsbibliothek der FAU im Jahr 2019. Koordination der Reihe: Dr.-Ing. Oliver Kreis. Für weitere Informationen zur Gesamtreihe siehe https://mb.fau.de/diss
local.publisherplaceBamberg
local.sendToDnbfree*
local.series.id32
local.series.nameFertigungstechnik - Erlangen
local.series.number203
local.subject.fakultaetTechnische Fakultät / Department Maschinenbau
local.subject.fakultaetTechnische Fakultät / Department Maschinenbau / Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS)
local.subject.gndIngenieurwissenschaften
local.subject.gndMaschinenbau
local.subject.gndProduktionstechnik
local.thesis.grantorFriedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) Technische Fakultät
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Diss. Reihe Fertigungstechnik, Band 203
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